測試能力              ; 

單顆粒子強(qiang)度                  

單顆粒子(zi)直(zhi)徑(jing)                  

單顆(ke)粒子(zi)硬度                  

計算粒(li)子的特征            

力(li)測量細節          ;   

范圍（大）  250 cN          

偏差      ±2 cN          

相對偏差      ±1 cN

(兩個測試之(zhi)間)

粒子尺(chi)寸測試細節        

范圍     0.8到3mm(可根據不同(tong)粒

         子(zi)大(da)小更(geng)換tip 尺(chi)寸）  

TIP Small                        

Tip Middle                       

Tip Large                        

偏差   ± 0.1  mm     ;     

相對偏(pian)差(cha)   ± 0.02  mm        

高分(fen)辨率測量(liang)Vs 壓(ya)縮炭黑

步進電機給定(ding)    0.00172mm/step

力測量         每(mei)秒50讀(du)書

校準                    

在每(mei)一(yi)系(xi)列炭黑測試(shi)前進(jin)行自動校準

(n=typically 20 resp.50)            

力矩傳感器(qi)                     

零(ling)位點                         

設備在負(fu)載(zai)下的偏差  

 測試模式（可選擇）     

ASTM D5230    恒定的速度  

               Mm/sec

ASTM D3313    恒定(ding)的力      

               Cn/sec

存樣(yang)轉(zhuan)盤(pan)                   

采樣率(lv)         55.6 Hz

采樣轉(zhuan)盤       共14個樣(yang)品(pin)口方(fang)便測試

安全標準                   

認證                       CE marking

SGS-USTC certified

設(she)備表(biao)面                     

與計算機通訊的RS232 通訊(xun)串(chuan)口(kou)          

為(wei)存樣自動轉(zhuan)盤留取(qu)的第(di)二(er)個串口(kou)  

軟(ruan)件                         

HITEC Applications                       

操作環境     Microsoft windows 32/64 bit        

             XP/W7/W8／win10

特點                     ;         

自(zi)動(dong)認證測試(shi)結果        

附帶PDF電子操(cao)作手冊(ce)    

擴展數據處理            

擴展維護保養支持        

多可以在同一(yi)臺計算機(ji)

操作四臺設(she)備（包括(kuo)IPHT/DABS）            

操作語(yu)(yu)言（英語(yu)(yu)，德語(yu)(yu)，法語(yu)(yu)）   

軟件可以安裝在(zai)個人(ren)電(dian)腦(nao) 

固(gu)定載重無需(xu)反復校準